DDR成像设备所用的探测器使用寿命一般是（)

A.探测器有效宽度

B.探测器有效宽度+无效空间

C.探测器有效宽度÷(探测器有效宽度+无效空间)

D.探测器有效宽度×(探测器有效宽度+无效空间)

A.NaI

B.CaO

C.CaCO3

D.NaC

E.NaO

A.非晶硒平板型探测器

B.非晶硅平板探测器型

C.IP成像方式

D.多丝正比室扫描投影DR

E.CCD摄像机型DR

A.大孔径CT

B.全身螺旋CT

C.多层螺旋CT

D.双层螺旋CT

E.平板探测器CT

CT成像设备即将发生的重大变化是

A．大孔径CT

B．平板探测器CT

C．多层螺旋CT

D．双球管螺旋CT

E．全身螺旋CT

A. NaI

B. CaO

C. CaCO3

D. NaCl

CT的成像方式是

A．利用X线直接成像

B．由探测器直接成像

C．由非晶硒板直接成像

D．经IP读取，计算机扫描成像

E．X线经模/数转换后，计算机重建成像

CT的成像方式是

A．利用X线直接成像

B．由探测器直接成像

C．由非晶硒板直接成像

D．经IP板读取，计算机扫描成像

E．X线扫描的数据经计算机重建成像

CT的成像方式是

A．利用X线直接成像

B．X线经模/数转换后，由计算机重建成像

C．由探测器直接成像

D．经IP板读取，由计算机扫描成像

E．由非晶硒板直接成像

应用非晶硒和薄膜晶体管阵列技术制成的探测器是

A、硒鼓检测器

B、IP成像转换器

C、直接转换平板探测器

D、间接转换平板探测器

E、多丝正比室检测器